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T2008湿法全量程激光粒度仪

 

 


一、产品简介
    T2008是一款测试范围覆盖毫米、微米、亚微米、纳米全量程的智能全自动激光粒度仪。采用了双光束多频谱探测系统和超微颗粒测试新技术,极大的提高了仪器测试的精度和性能。代表了国内该领域的先进水平。
二、适用范围
    T2008全量程湿法激光粒度仪,广泛应用于具有高要求的水泥、陶瓷、药品、涂料、染料、颜料、填料、化工产品、催化剂、煤粉、泥砂、粉尘、面粉、食品、添加剂、农药、炸药、石墨、感光材料、燃料、金属与非金属粉末、碳酸钙、高岭土、水煤浆及其他粉体行业。
三、主要性能特点
全新的测试原理:该款仪器在采用经典Mie氏散射原理、会聚光傅立叶变换专利技术以及无约束自由拟合数据处理技术的基础上,柔和了频谱放大技术,从而在有限的空间内轻而易举的拓宽了测试范围;
操作和校准全自动化:使用过程中,只要针对所测样品的特性设置好测试条件后,分散、测试、冲洗等一系列操作过程便可自动完成,并得出准确、可靠的测试结果。另外,利用三维对中系统调节光电探测器,在避免人工调试所带来的繁琐的同时,对整个光路系统可随时校准,保证其准确对中,从而对测试结果的准确度和稳定性提供了有力的保障;
有效的分散循环系统:在配有常规的超声和搅拌分散装置外,还针对宽分布样品和比重较大的颗粒,专门配备了大流量循环泵,以防止因大颗粒丢失而导致测试结果不准确的现象。因而,该仪器在不同的粉体行业更具有广泛适用性;
权威的测试标准:采用多种微米、亚微米及纳米级国家粒度标准物质,对仪器进行全量程校准标定,从而保证了在其整个测量范围之内得到真实、准确的测试结果。
四、T2008 激光粒度分析仪技术参数:
规格型号 T2008A T2008D
执行标准 ISO 13320-1:1999;GB/T19077.1-2008;Q/0100JWN001-2013
测试范围 0.01-2000μm 0.01-1200μm
探测器通道数 127 127
准确性误差 <1%(国家标准样品D50值)
重复性误差 <1%(国家标准样品D50值)
激光器参数 主激光源:高性能He-Ne激光器  λ= 632.8nm,  p>3.0mW
    辅助激光源:半导体激光器,λ= 650nm;p>2mW
分散方法 超声 频率:f=40KHz,   功率:p=50W
搅拌 转速:0-3000rpm转速可调
循环 额定流量:30L/min    额定功率:70W
样品池 容量:1000mL
操作模式 软件操作 / 全自动操作模式可切换
自动对中系统 全自动对中系统
测试速度 <2min/次
体积 660mm*320mm*400mm
重量 65Kg
五、产品特点
1.采用全内置分散系统:使用大功率循环泵,对管路进行优化设计,使整体控制协调性达到极高水平,有效的防止了大颗粒的二次沉淀。
2.采用精密四项混合式步进电机组成光路自动对中系统,微动精度达到微米级别,使仪器光路始终处于最佳状态。
3.无约束自由拟合技术:微纳独创的无约束自由拟合技术,不受任何函数限制,可真实反映颗粒的分布状态。 
4.微纳专利光路设计:采用会聚光傅立叶变换专利技术,使散射光不受透镜孔径限制;采用双谱面光路设计,有效扩大测量范围至2000微米;独创双激光正交光路使用半导体辅助激光器测量侧向散射45度至135度,将测量范围进一步扩展
 
 
   
 

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